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兩箱式冷熱沖擊試驗箱

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兩箱式冷熱沖擊試驗箱02.jpg

冷熱沖擊試驗箱根據(jù)待測試樣的狀態(tài),分為兩箱式動態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊,既可作冷熱沖擊試驗,也可以做單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛使用于航空航天、軍用、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、汽車電子、零部配件等。模擬試件在大氣溫度急劇變化條件下產(chǎn)品的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等,也可通過冷熱沖擊試驗,進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

兩箱式?jīng)_擊試驗箱技術(shù)參數(shù)(標(biāo)準(zhǔn)型)

產(chǎn)品序號

型 號

工作室尺寸(mm)
W×D×H

外形尺寸(mm)

W×D×H(約)

電源電壓/電流

(約)

01

TSD-36F-2P

350×300×350

1320×1900×1810

380V/18.0A

02

TSD-50F-2P

400×350×350

1370×1950×1810

380V/22.0A

03

TSD-100F-2P

400×500×500

1370×2000×2100

380V/23.5A

04

TSD-150F-2P

600×500×500

1570×2000×2100

380V/26.0A

05

TSD-252F-2P

700×600×600

1670×2100×2300

380V/31.5A

06

TSD-480F-2P

850×800×600

1770×2300×2300

380V/35.0A

07

TSD-1000F-2P

1000×1000×1000

1970×2500×2800

380V/45.0A

溫度

 

 

高溫室

RT~180℃(按要求)    

低溫室

RT~-70℃(按要求)

測試區(qū)溫度

-40、-50、-60℃~120、150℃ (按要求選定)

溫度波動度≤±0.5℃

溫度均勻度≤±2℃

噪音(dB)≤65

升降溫速率

升溫約

60min/ RT~180℃

降溫約

60min/ 0~-70℃

試驗方式

溫度轉(zhuǎn)換

氣動提籃式切換,氣動式

氣門切換時間

≤5S

溫度恢復(fù)時間

≤5min

 制冷

制冷機

法國全封閉泰康壓縮機復(fù)疊制冷(或半封閉谷輪或德國比澤爾)

制冷劑

復(fù)疊二級 (無氟CFC-free)

冷卻

風(fēng)冷 (或水冷)

傳感器

溫度

A級鉑金電阻(PT100)

濕度

A級鉑金電阻(PT100)

箱體材質(zhì)

工作室

# 304鏡面不銹鋼(1.2mm)

外箱體

冷軋鋼板靜電噴涂 (1.5mm)

保溫

聚氨酯+超細玻璃纖維(-50℃以下110mm)

控制

原裝進口觸摸屏溫控儀表,操作簡單,設(shè)定方便,控制解析精度0.01℃,超出1200段編程

加熱器

鰭片式不銹鋼加熱系統(tǒng)

蒸發(fā)器

高效能熱交換器

注明

非標(biāo)特殊要求可定做(因我們的產(chǎn)品在不斷升級,參數(shù)會更新,請與我們確認)

特別說明:本網(wǎng)站所列參數(shù)及配置為標(biāo)準(zhǔn)配置,具體要求以技術(shù)協(xié)議為準(zhǔn)。

 

主要特點

? 測試樣品一直處于靜止?fàn)顟B(tài),減少對樣品的機械沖擊,其溫度轉(zhuǎn)換通過氣動系統(tǒng)打開(或關(guān)閉)不同風(fēng)門來實現(xiàn),帶測試孔,可帶電,帶信號,帶氣源測試。

? 新一代外觀設(shè)計,箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進,技術(shù)指標(biāo)更加穩(wěn)定,運行更可靠,維護更方便,備有高檔萬向滾輪,方便在實驗內(nèi)移動。

? 彩色超大觸摸屏操作,外觀更加簡潔大方,操作更加容易,設(shè)定值實際值實時顯示。

? 真空雙層(多層)玻璃:大視窗設(shè)計,飛利浦高亮度照明,加熱無霧氣。

? 接口:RS-232、USB接口輸出,可電腦連接打印。

? 可靠性高:關(guān)鍵配件選配著名品牌專業(yè)生產(chǎn)廠商,保證整機可靠性。

 

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法

GB11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件

GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件(溫度交變)

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:高溫試驗

GJB150.4A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分:低溫試驗

GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗

GB/T2423.22-2001(IEC68-2-27)溫度沖擊試驗方法


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